YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- 资料名称：YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
- 英文名称：Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
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资料介绍
本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
本标准适用于工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
本标准适用于工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。
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