SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法
- 资料名称：SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法
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资料介绍
本标准规定了微波元器件低温环境下S参数的测试方法。本标准适用手微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻）低温环境下的S参数测试
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