JJF 1236-2010 半导体管特性图示仪校准规范
资料介绍
标 准 编 号： 1236-2010
简体中文标题：半导体管特性图示仪校准规范
繁体中文标题：半导体管特性图示仪校准规范
English Name：Calibration Specification for Semiconductor Device Curve Tracers
标准简介：
本规范适用于计量比对的组织、实施和评价。其他比对可参照本规范。
相关资料
- JJF(电子) 0027-2018 不间断电源校准规范
- JJF(浙) 1195-2023 60°密封管螺纹量规校准规范
- JJF(津)120-2024 有机卤素测定仪校准规范
- JJF 1980-2022 道路交通技术监控系统时间参数校准规范 高清晰版
- JJF 2087-2023 光电式含沙量测量仪校准规范
- JJF(鲁) 175-2023 “两高”行业监测用计量器具配备和管理指南 化肥企业
- JJF(京) 93-2022 医用电子直线加速器数据采集及远程监测计量技术规范
- JJF(津) 77-2022 超声测厚标准件校准规范
- JJF 1978-2022 球杆仪校准规范 高清晰版
- JJF 1437-2013 示波器电压探头校准规范 高清晰版